串联电抗器
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串联电抗器

MR电抗器采用PolyGap®技术,可最大程度的减少气隙的长度,可精确调整电感值,并最小化空气中的磁通量差距,从而消除杂散的磁场。多层气隙的结构让整颗电抗器的结构更平均及稳定,也让电抗器运行时无集中的积温,散热更加均匀,温升更低。PolyGap®技术还可以使电抗器具有高线性度,降低磁饱和,保证电感处于正常范围内。

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  • PolyGap®技术(多层气隙

    MR PolyGap®电抗器可最大程度的减少气隙的长度,可精确调整电感值,并最小化空气中的磁通量差距,从而消除杂散的磁场。多层气隙的结构让整颗电抗器的结构更平均及稳定,也让电抗器运行时无集中的积温,散热更加均匀,温升更低。PolyGap®技术还可以使电抗器具有高线性度,降低磁饱和,保证电感处于正常范围内。

     

    冷压焊接

    多数的铝绕组电抗器使用铝端子,然而外部连接线路通常为铜材质,当不同材质结合时在连接处容易产生积温,造成过热。MR使用冷压焊接工艺结合铜端子及绕组导体,以此方式永久固定端子,仅有最小的接触电阻,无故障问题且低功率损耗。

     

     

    真空过压浸润工艺

    所有MR制造的电抗器均采用H级浸漆,整个过程经过真空、浸润和加压后再进行烘烤。经过这一过程,电抗器线圈之间没有残留空气间隙,在运行过程中可以更加安静和稳定,并达到更长的使用寿命。

     

     

    自动化BOM设计

    可以为客户量身定制所需的产品。


    PolyGap®技术(多层气隙

    MR PolyGap®电抗器可最大程度的减少气隙的长度,可精确调整电感值,并最小化空气中的磁通量差距,从而消除杂散的磁场。多层气隙的结构让整颗电抗器的结构更平均及稳定,也让电抗器运行时无集中的积温,散热更加均匀,温升更低。PolyGap®技术还可以使电抗器具有高线性度,降低磁饱和,保证电感处于正常范围内。

     

    冷压焊接

    多数的铝绕组电抗器使用铝端子,然而外部连接线路通常为铜材质,当不同材质结合时在连接处容易产生积温,造成过热。MR使用冷压焊接工艺结合铜端子及绕组导体,以此方式永久固定端子,仅有最小的接触电阻,无故障问题且低功率损耗。

     

     

    真空过压浸润工艺

    所有MR制造的电抗器均采用H级浸漆,整个过程经过真空、浸润和加压后再进行烘烤。经过这一过程,电抗器线圈之间没有残留空气间隙,在运行过程中可以更加安静和稳定,并达到更长的使用寿命。

     

     

    自动化BOM设计

    可以为客户量身定制所需的产品。


  • MR 低压电抗器参数
    设计构造三相铁芯式电抗器,铝带 / 铜箔绕组,PolyGap® 多层空气间隙
    额定电压220 - 690V
    额定容量5 - 100kvar
    额定频率50/60 Hz
    电抗率7%/14% (其他规格亦可)
    电感值差-2%/+3%
    线性度I=1.85In, L±0.05Ln
    绝缘水平3/ - kV
    绝缘等级F (180℃)
    冷却方式自然冷却
    安装方式室内安装
    防护等级IP00
    谐波防护等级class I
    保护功能温控开关保护 (选配)
    运行海拔高度≤1000 米
    浸渍真空浸渍
    标准IEC/EN 60076 - 6, VDE 0532 - 76 - 6


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